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JIS C5630-2-2009 半导体器件微型机电器件第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-02 14:50:10  浏览:9857   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices--Micro-electromechanicaldevices--Part2:Tensiletestingmethodofthinfilmmaterials
【原文标准名称】:半导体器件微型机电器件第2部分:薄膜材料的拉伸测试方法
【标准号】:JISC5630-2-2009
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2009-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:10P;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:Thin-filmterrestrialphotovoltaic(PV)modules-Designqualificationandtypeapproval(IEC61646:1996);GermanversionEN61646:1997
【原文标准名称】:薄膜地面光电(PV)模数.设计资格和型号批准
【标准号】:EN61646-1997
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1998-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;型式;设计认证;合格试验;试验;适宜性;作标记;光电器件;太阳能;电气工程;陆地的;模数
【英文主题词】:Designcertifications;Electricalengineering;Marking;Modules;Photovoltaics;Qualificationtesting;Silicon;Solarenergy;Suitability;Terrestrial;Testing;Thin-filmtechnology;Typeapproval;Types
【摘要】:薄膜地面光电(PV)模数.设计资格和型号批准
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:OutputFarFieldRadiationPatternMeasurement
【原文标准名称】:输出远场辐射图测量
【标准号】:ANSI/EIA/TIA455-47B-1992
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射;电子工程;电信
【英文主题词】:radiation;electronicengineering;telecommunications
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:
【正文语种】:英语



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