BS EN 62047-7-2011 半导体装置.微电子机械装置.射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS)声表面滤波器(BAW)和双工器
作者:标准资料网 时间:2024-04-28 05:56:32 浏览:8771
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices.Micro-electromechanicaldevices.MEMSBAWfilterandduplexerforradiofrequencycontrolandselection
【原文标准名称】:半导体装置.微电子机械装置.射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS)声表面滤波器(BAW)和双工器
【标准号】:BSEN62047-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-08-31
【实施或试行日期】:2011-08-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electricalengineering;Filters;Layers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:34P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体装置.微电子机械装置.射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS)声表面滤波器(BAW)和双工器
【标准号】:BSEN62047-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-08-31
【实施或试行日期】:2011-08-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electricalengineering;Filters;Layers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:34P;A4
【正文语种】:英语
下载地址: 点击此处下载
